Mehrzweckgerät für Labor und Produktion mit neuen Features
Datum: Mittwoch, dem 06. Juni 2012
Thema: Köln Infos


FRT kombiniert konfokale und interferometrische Messtechnik im MicroSpy Topo DT

Fries Research & Technology (FRT)präsentiert die Weiterentwicklung des erfolgreichen MicroSpy Topo DT. Das Oberflächenmessgerät kombiniert zwei Messtechniken in einem neuen, wesentlich kompakteren Design: ein Konfokalmikroskop und ein Weißlichtinterferometer. Mit dem MicroSpy Topo DT lassen sich sowohl flache als auch strukturierte Proben, die entweder wenig oder stark reflektieren, gleichermaßen charakterisieren - berührungslos, zerstörungsfrei und innerhalb weniger Sekunden. Das optische Messgerät stellt Rauheit, Kontur und 3D-Topographie in Mikro- und Nanometerauflösung dar. Etabliert ist es bei Anwendern in der Forschung, in der Produktentwicklung sowie in der begleitenden Produktionskontrolle.

Neue technische Features
Die neue Generation des MicroSpy Topo DT verfügt über einen großen Verstellbereich von 50 mm in der Höhe und 100 mm x 100 mm in der Fläche. Dank seines Objektivrevolvers kann schnell zwischen verschiedenen Objektiven mit unterschiedlichen Vergrößerungen gewechselt werden.
Der Revolver kann mit bis zu sechs Objektiven gleichzeitig bestückt werden und ermöglicht so einen sehr flexiblen Einsatz des Messgerätes. Mit hoher lateraler Auflösung lassen sich somit Strukturen im Sub-Nanometer Bereich charakteriesieren.
Glatte Probenoberflächen wie Linsen, Glas oder Wafer können im Weißlichtinterferometer- Modus vermessen werden. Stärker strukturierte Oberflächen können im Konfokal- Modus analysiert werden. Die mitgelieferte Bildanalyse-Software ermöglicht die Auswertung der Messergebnisse hinsichtlich Geometrie-, Rauheits- und Ebenheitscharakteristika. Beide Modi überzeugen mit variabler Messfeldgröße ohne Auflösungsverluste und mit der hohen Messgeschwindigkeit.
Dank der Stitching Funktion lassen sich auch große Proben präzise vermessen.

In der Standardkonfiguration wird das Mehrzweckgerät für Labor und Produktion mit zwei Objektiven geliefert, einem Tilttisch und aktiver Schwingungsdämpfung - und das Ganze zu einem absolut wirtschaftlichen Preis.

Fries Research & Technology GmbH - the art of metrology
Fries Research & Technology GmbH (FRT) bietet 3D-Oberflächenmesstechnik bis zur Mikro- und Nanometerauflösung für Forschung und Produktion. Die mehrfach ausgezeichneten Messsysteme von FRT liefern berührungslos und zerstörungsfrei sowie wahlweise vollautomatisch Informationen über die Topographie, Struktur, Stufenhöhe, Rauheit, Verschleiß, Schichtdicke und viele andere Parameter. Mehr als 300 Anlagen sind weltweit bei Unternehmen aus den Branchen wie z.B. Automotive, Halbleiter, Mikrosystemtechnik, Optik, Solar/Photovoltaik im Einsatz.
Das Unternehmen hat seinen Sitz in Bergisch Gladbach bei Köln und unterhält Tochtergesellschaften in den USA, China und der Schweiz sowie ein Vertriebs- und Servicenetz in den USA, Asien und Europa.
FRT, Fries Research & Technology GmbH
Christina Abholte
Friedrich-Ebert-Straße
51429 Bergisch Gladbach
02204 843205

http://www.frt-gmbh.com

Pressekontakt:
Alpha & Omega PR
Oliver Schillings
Am Mühlenberg 47
51465 Bergisch Gladbach
o.schillings@aopr.de
02202 / 959 002
http://www.aopr.de

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FRT kombiniert konfokale und interferometrische Messtechnik im MicroSpy Topo DT

Fries Research & Technology (FRT)präsentiert die Weiterentwicklung des erfolgreichen MicroSpy Topo DT. Das Oberflächenmessgerät kombiniert zwei Messtechniken in einem neuen, wesentlich kompakteren Design: ein Konfokalmikroskop und ein Weißlichtinterferometer. Mit dem MicroSpy Topo DT lassen sich sowohl flache als auch strukturierte Proben, die entweder wenig oder stark reflektieren, gleichermaßen charakterisieren - berührungslos, zerstörungsfrei und innerhalb weniger Sekunden. Das optische Messgerät stellt Rauheit, Kontur und 3D-Topographie in Mikro- und Nanometerauflösung dar. Etabliert ist es bei Anwendern in der Forschung, in der Produktentwicklung sowie in der begleitenden Produktionskontrolle.

Neue technische Features
Die neue Generation des MicroSpy Topo DT verfügt über einen großen Verstellbereich von 50 mm in der Höhe und 100 mm x 100 mm in der Fläche. Dank seines Objektivrevolvers kann schnell zwischen verschiedenen Objektiven mit unterschiedlichen Vergrößerungen gewechselt werden.
Der Revolver kann mit bis zu sechs Objektiven gleichzeitig bestückt werden und ermöglicht so einen sehr flexiblen Einsatz des Messgerätes. Mit hoher lateraler Auflösung lassen sich somit Strukturen im Sub-Nanometer Bereich charakteriesieren.
Glatte Probenoberflächen wie Linsen, Glas oder Wafer können im Weißlichtinterferometer- Modus vermessen werden. Stärker strukturierte Oberflächen können im Konfokal- Modus analysiert werden. Die mitgelieferte Bildanalyse-Software ermöglicht die Auswertung der Messergebnisse hinsichtlich Geometrie-, Rauheits- und Ebenheitscharakteristika. Beide Modi überzeugen mit variabler Messfeldgröße ohne Auflösungsverluste und mit der hohen Messgeschwindigkeit.
Dank der Stitching Funktion lassen sich auch große Proben präzise vermessen.

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Friedrich-Ebert-Straße
51429 Bergisch Gladbach
02204 843205

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